基本的IC芯片测试座由三个关键部件组成：

       1、插座本体，是一种由金属或是塑料制成的组件，含有精密的切割腔体。 

       2、插入测试座孔径的探针或是弹簧弹片（即引脚）提供具有机械性的电路径，将芯片连接到测试系统。 

       3、钻孔、浮动组件，用来固定探针或是弹片的部件，精准的定位，确保芯片和探针能精密接触。 

       4、根据应用不同，机械压合组件，用来压合芯片，提供匹配的压力供pin针双头和芯片焊盘及PCB焊盘接触。

        IC芯片测试座的设计者必须应对众多挑战，测试插座必须非常坚固，不受温度和湿度变化的影响，以实现与受测设备的精确和可重复连接。探针引脚通常必须具有低接触电阻及大载流能力，有些还需具有处理数千兆赫数据速率的高速信号。信号路径必须屏蔽，以使电磁干扰的影响降到最低。 除此之外，IC插座还必须能成功在大批量生产环境中运行，并且能够连续多年可靠地处理数百万个芯片的测试。因此必须对电性特性进行模拟、建模和设计，以达到信号保真度，压缩力、耐用性的极限，满足客户的生产要求。 IC测试座经定制设计后，需按客户要求符合特定设备的占用空间和布局要求，而且其设计能满足芯片的特机械和电气要求。

       随着数据数率和带宽的不断增加，IC测试座供应商在开发过程中会进行更细致的电气模拟。设计封装和PCB接口通常也会被纳入分析之中，因为他们会影响系统中测试座的最终性能。测试座结构体与弹簧探针有着极小且紧凑的尺寸公。制造测试座城要精密的制造和组装，而且在开发过程中还需要执行严格的测试和模拟，因为不同封装，类型，测试要求的测试座在成本上可能会有较大的差异。