应用场景中，随着互联消费电子设备的持续强劲增长，尤其是外围设备的增长率将继续超过平台设备的增长速度，如可穿戴设备等领域对于功耗、体积、成本等方面的需求，大量的 IoT 芯片朝 All in One 的 SoC 方向发展是一个明显可预期的趋势。产品生命周期的所有阶段进行 IoT 设备和网络测试，可确保产品性能、可靠性以及快速上市，IoT 设备和网络预期将具备出色的可靠性、性能、质量和长期可用性，无线连接则是物联网取得成功的关键因素。

      通过对 IoT 芯片市场趋势和技术趋势的分析，高集成度、低功耗、高性能、低成本、产品更新迭代快等对 IoT 芯片的测试带来了多方面的挑战，要求ATE系统可以覆盖所有模块测试；更高的DC精度要求、更高的RF指标要求、更高的THD/SNR指标要求、更高的吞吐量；更低成本的测试方案；更短的测试开发周期等。

IoT是未来的趋势，随着IoT技术和产业奇点来临，国内进入黄金发展期。IoT产业链包含感知、传输、平台、应用及服务四个层面，传输和感知一直是智能设备变化的核心，随着时代的演进，传输技术也在逐步发展。