射频测试涵盖Wi-Fi，Zigbee，PMR无线电，RFID，NFC，GPS，蜂窝技术等技术。 通常还需要进行其他测试，以验证设备是否符合电磁兼容性（EMC），电气安全性和射频暴露的当地法规。射频测试技术是在射频集成电路基础上发展起来的，以在片测试为主要方法。这种测试平台用于测试裸芯片，其中探针台，直流偏置探卡以及微波探针等是主要测试设备，利用它们与测试仪器进行配套完成测试。射频测试技术是专门用于射频集成电路测试的技术类型，在通信技术和电子设备领域获得了广泛应用，它是提高集成电路质量，加快检测效率的技术保障。对提升国内集成电路产品质量的现实意义尤为重大

      通常集成电路在射频测试的应用中有三个需要注意点  1、小信号参数测试技术，利用射频测试技术对集成电路进行测试，可以分成多个技术种类，小信号S参数测试就是其中之一。通信系统的集成电路要求对信号进行高质量放大反射以及传输，大信号是导致高频增益压缩的主要原因，因此电路往往得不到准确评估，所以，射频测试系统必须引入小信号S参数测试技术   
2、直流在片测试系统，集成电路射频测试系统中的最关键组成部分就是直流在片测试系统，射频集成电路利用在片测试方法完成射频测试技术应用，在片测试的关键一环就是直流在片测试系统，随着科学技术的发展，国内的直流在片测试系统已经实现自动化建设，这种模式测试速度极快，错误率低，可大幅节约人工作业成本。
3、后续统计，在测试集成电路期间，需要技术人员全面分析评估测试结果，最终结论需要提交给设计部门用做优化集成电路的参考依据，促进设计部门对集成电路进行优化设计和工艺改造，提高产品质量。要全面掌握芯片的实际性能，须结合投入应用的集成电路芯片，就重要指标开展统计学统计。