作为电子行业，必须要保证各个产品性能的高精准性，也要保证其质量的稳定性，所以做对其相关的测试也是必要的。那么为什么要做老化测试呢？芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。

     
       芯片包装后，将被送往终测试:在不利环境下强制不稳定的芯片无效。试验过程中，旋转机内的高速运动会使焊接接头与焊接垫片机械结合不牢固。温度过高会加速电子元件的失效。晶片终会被放入特别的搁板，在正常运行数天后，这就是所谓的老化试验，老化测试通过模拟设备在实际使用中受到的各种应力、老化设备封装和芯片的弱点，加快设备实际使用寿命的验证。同时可以在模拟过程中，引起固有故障的尽早突显。因此，芯片老化测试可以减少早夭阶段的故障率或藉由BI手法降低出货的早夭率