一站式5G模块测试解决方案
新闻资讯
  • 如何正确评估芯片的老化程度?
    芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命,因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。根据不同的老化时间,所得资料的可靠性可能涉...
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  • 究竟是什么芯片老化测试?
    专用集成电路(ASIC)是一种专门设计用于特定应用的集成电路-顾名思义。因此,在印刷电路板上测试这些电路成为非常关键和复杂的任务。老化测试在此发挥作用。 通过执行老化测试技术来检查ASIC的可靠性。这...
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  • 芯片老化测试对于IC芯片的重要性
    产品检测(FT),是在晶片通过了封装测试后对整个晶片进行的检测。在封装过程中经常用来过滤有缺陷的芯片和无法覆盖的芯片测试,如高速测试等。一般来说,封装后的测试包括高温、室温、低温、抽样测试等几个测试环...
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  • IC芯片老化测试流程及重要性讲解
    集成电路芯片的测试(ICtest)分类包括:分为晶圆测试(wafertest)、芯片测试(chiptest)和封装测试(packagetest)。 一般说来,是根据设计要求进行测试,不符合设计要求的就...
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  • 为什么需要做芯片加速老化测试?
    近日遇到挺多客户,咨询用于做加速老化测试的芯片老化座。今天小编就为大家介绍一下为什么需要做芯片加速老化测试? 随着芯片打入汽车、云计算和工业物联网等市场,芯片的可靠性渐渐成为开发人员关注的重点。事实也...
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  • 影响可穿戴电子芯片设备老化的三大因素
    可穿戴设备由不同的材料制成,如彩色热塑性塑料或橡胶材料、密封剂和接头、显示器、照相机和保护膜等。这些材料都对紫外线辐射、可见光,温度和湿度敏感。此外,随着佩戴者的行程轨迹,可穿戴电子设备有时使用在户外...
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  • TWS耳机测试可选弹片微针模组
    TWS耳机自推出以来,就一路呈上升趋势,从2016年918万副的出货量到2019年1.2亿台的出货量,数字的增长凸显出TWS耳机在可穿戴式设备领域的重要性。TWS耳机在市场上的受欢迎程度,除了自身拥有...
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  • 从芯片商到品牌商TWS+ANC将成为主流
    这两年 TWS 耳机年出货量超过 2 个亿,而全球手机的存量有 30 亿,你说TWS耳机的增长空间有多大? 1、带有 ANC 单馈或混合降噪耳机将成为主流。考虑到混合降噪比单馈的生产成本高,两类产品将...
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  • 蓝牙模块相比WIFI模块有哪些优势
    在嵌入式系统设计当中,会有很多应用场景使用无线外设进行数据传输和无线控制,如2G模块,WIFI模块,蓝牙模块,今天和大家讲解下蓝牙模块如何进行测试,为什么选用蓝牙模块 ? 选用蓝牙模块是因为开发过程方...
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  • 常规蓝牙模块测试四项流程及说明
    蓝牙模块一般怎么测试 ?需要测试哪些项目?一般在选型当中,测试蓝牙的测试项目,有如下几点 1,蓝牙名称是否修改正确。 在设计开发过程中,蓝牙设备都是通过蓝牙名称与其他的产品进行区分。每家公司的蓝牙名称...
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  • 射频、音频一站测试系统线功能介绍
    测试蓝牙PCBA电性能(电压、电流、校频、功能等)、射频(输出功率、频偏、灵敏度等)、音频(蓝牙:名称、地址、RSSI、电量,喇叭:频响、失真、信噪比,咪头:频响、失真、回声等)等功能一站式测试。一拖...
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  • 集成电路老化测试系统主要功能
    集成电路老化测试系统是一种用于电子与通信技术领域的工艺试验仪器,于2008年06月25日启用,用来做耐温老化试验的。在耐温老化试验中,首先要根据老化测试系统机台内部的接口,另外设计制作老化测试板,将要...
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  • 一站式IC芯片老化测试 IGBT模块测试解决方案电话:0512-67950666
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